Система наблюдения для измерения температуры E-LIT

для измеренийс инфракрасной камеройвысокоэффективная

Решение для испытаний электроники / полупроводников - E-LIT * Тепловой анализ электронных и полупроводниковых приборов * Модульный испытательный стенд для онлайн-блокировки измерений * Надежное обнаружение тепловых аномалий в диапазоне mK и μK * Пространственное расположение дефектов в многослойных печатных платах и многочиповых модулях * Использование термографических систем с охлаждаемыми и неохлаждаемыми детекторами * Операционное программное обеспечение ИРБИС® 3 активно с возможностью проведения комплексных анализов в лабораторных условиях E-LIT (Automated test solution system) - автоматизированная система решения для тестирования, позволяющая проводить бесконтактный контроль полупроводникового материала в процессе производства. Неоднородное распределение температуры, локальные потери мощности могут быть измерены с помощью блокировочной термографии. Это достигается за счет использования минимального времени измерения в сочетании с высокопроизводительной тепловизионной камерой и специальной процедурой блокировки. Источник питания для этого процесса синхронизируется с помощью модуля синхронизации и надежно обнаруживает неисправности, которые приводят к возникновению разницы в мК или даже мкК. Самые мелкие дефекты, такие как точечные и линейные шунты, окисленные повреждения, неисправности транзисторов и диодов на поверхности печатных плат и ИС, могут быть обнаружены и отображены в положениях x и y. Кроме того, можно анализировать пакеты стека или многочиповые модули в z-направлении, просто изменяя частоту блокировки. Преимущества модульной испытательной стенда - Онлайн-блокировка измерений с высочайшей чувствительностью - Полный и подробный микроскопический анализ - Геометрическое разрешение до 1,3 мкм на пиксель с микроскопическими линзами - Тепловое разрешение в микрокельвиновом диапазоне - многослойный анализ - Автоматическое сканирование больших образцов благодаря точной механике