Система наблюдения для измерения температуры E-LIT

для измеренийдля электронной промышленностис инфракрасной камерой

Решение для тестирования электронных / полупроводниковых приборов - E-LIT Модульный автоматизированный испытательный стенд - Термический анализ электронных и полупроводниковых устройств - Модульный испытательный стенд для измерений в режиме онлайн - Надежное обнаружение тепловых аномалий в диапазоне мК и мкК - Пространственная локализация дефектов в многослойных печатных платах и многокристальных модулях - Использование термографических систем с охлаждаемыми и неохлаждаемыми детекторами - Операционное программное обеспечение IRBIS® 3 active с широкими возможностями анализа в лабораторных условиях E-LIT - Lock-In Thermography for electronics - автоматизированная система тестирования (как часть методов неразрушающего контроля), позволяющая проводить бесконтактный (электрический) анализ отказов полупроводниковых материалов в процессе производства. Неоднородное распределение температуры, локальные потери мощности, токи утечки, резистивные швы, холодные соединения, эффекты защелкивания и проблемы с пайкой могут быть измерены с помощью Lock-in Thermography. Это достигается за счет использования кратчайшего времени измерения в сочетании с высокопроизводительной термографической камерой и специальной процедурой фиксации. Питание для этого процесса подается по часам с помощью модуля синхронизации, и сбои, вызывающие разницу температур в мК или даже мкК, надежно обнаруживаются системой Lock-in Thermography. Мельчайшие дефекты электронных компонентов, такие как точечные и линейные шунты, проблемы с перегревом, внутренние (омические) замыкания, окисные дефекты, отказы транзисторов и диодов на поверхности печатной платы, в интегральных схемах (ИС), светодиодных модулях и элементах питания могут быть обнаружены и отображены в позициях x и y. Кроме того, можно анализировать стопки микросхем или многочиповые модули в z-направлении, просто изменяя частоту фиксации.