Оптическая система обнаружения PR series

оптическая система обнаружения
оптическая система обнаружения
оптическая система обнаружения
оптическая система обнаружения
оптическая система обнаружения
оптическая система обнаружения
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Технология
оптическая

Описание

HORIBA предлагает системы, которые широко используются в процессе полупроводниковой литографии. Эти системы обнаруживают частицы на сетке прицела/маске с высокой надежностью и долговременной стабильностью. Системы могут измерять частицы на каждой поверхности стекла/гранул с точностью и высокой пропускной способностью, что способствует повышению производительности на любом предприятии по производству полупроводников. HORIBA также предлагает средство для удаления частиц, разработанное для использования в сочетании с системой обнаружения для автоматического удаления любых обнаруженных частиц.

---

Каталоги

Для этого товара не доступен ни один каталог.

Посмотреть все каталоги HORIBA STEC
* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.