GD-Profiler 2™ является идеальным аналитическим инструментом для исследования материалов с покрытием, разработки и контроля процесса, так как он предлагает сверхбыстрый элементный анализ профиля глубины тонких и толстых слоев, проводящих или изолирующих, с высокой чувствительностью ко всем элементам.
Система сочетает в себе источник светящегося разряда, питающийся от импульсной радиочастоты, с возможностью послойного распыления репрезентативной области исследуемого материала, а также спектрометр с высоким разрешением и высокой чувствительностью, который измеряет в режиме реального времени все интересующие элементы.
Обеспечивает быстрый, одновременный анализ элементов, включая газы азот, кислород, водород и хлор.
---