video corpo

Прибор для контроля CD-SEM CD-SEM CG5000
для полупроводниковой пластиныдля измеренийвысокое разрешение

прибор для контроля CD-SEM
прибор для контроля CD-SEM
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Технология
CD-SEM
Применение
для полупроводниковой пластины
Другие характеристики
для измерений, высокое разрешение, с высокой частотой

Описание

Новый CD-SEM, разработанный для узлов с технологией менее 22 нм и выше. Усовершенствованная система измерения компакт-дисков CEM CG5000 (HITACHI CD-SEM) обеспечивает высокое разрешение, высокую пропускную способность и воспроизводимость благодаря использованию усовершенствованной электронной оптики, усовершенствованной обработке изображений и новой системы передачи пластин. CG5000 также способен к усовершенствованной автоматической калибровке, обеспечивая долговременную стабильность. Кроме того, CD-SEM CG5000 имеет новые области применения и методы измерения, позволяющие решать измерительные задачи при разработке новых процессов и материалов с шагом 1Xnm.

---

* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.