Спектрометр масс-спектрометрия с вторичной ионизацией FIB-SIMS

для анализавысокой чувствительности

Добавьте высокопроизводительные возможности SIMS к существующей системе FIB Hiden Analytical предлагает высокопроизводительную масс-спектрометрию вторичных ионов (SIMS) для существующих систем сфокусированного ионного пучка (FIB), обеспечивающую превосходную специфичность поверхности и естественно высокий динамический диапазон для передового анализа наноразмерных материалов. Наши системы FIB-SIMS способны повысить эффективность вашей работы, от рутинных задач обнаружения до сложной пробоподготовки. Анализ наноразмерных материалов относится к растущей области инструментов, ориентированных на обнаружение микро- и ультра-следовых элементов вплоть до частей на миллион (ppm). Это имеет решающее значение для высокочувствительного трехмерного (3D) элементного картирования и профилирования глубины; оба ключевых метода анализа материалов для аналитических и препаративных приложений идентификации материалов. Масс-спектрометрия вторичных ионов с фокусированным ионным пучком (FIB-SIMS) является одним из самых мощных методов идентификации материалов в высокочувствительном анализе наноразмерных материалов. Он сочетает в себе исключительную поверхностную чувствительность SIMS и сфокусированный пучок первичных ионов, создавая основу для качественного композиционного анализа верхних нанослоев интересующих материалов. FIB-SIMS может предоставить критические элементные данные на основе изотопного и ионного (атомного и молекулярного) детектирования, с широким спектром подходящих областей применения. Наномасштабное элементное картирование поверхности 3D профилирование глубины Анализ материалов Отличная чувствительность и динамический диапазон Индивидуальный интерфейс программного обеспечения Режим 'Feature MS' позволяет получать масс-спектральные данные из конкретной области, представляющей интерес, например, загрязнение, граница зерна и т.д Индивидуальные монтажные решения для любой системы FIB