Измерительная система для полупроводниковых пластин XDV®-µ SEMI

толщины покрытиярентгеновскаяавтоматическая

Первый выбор для автоматизированного измерения пластин. Специальное устройство для автоматизированного измерения и анализа мельчайших структур, очень тонких покрытий и многослойных систем на пластинах диаметром до 12 дюймов. Точное рентгенофлуоресцентное измерение микроструктур на пластинах. FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-μ SEMI - это оптимальное измерительное решение для полностью автоматизированного контроля микроструктур на пластинах. Автоматизированный процесс обработки и контроля пластин обеспечивает очень высокую эффективность и позволяет безошибочно обрабатывать и измерять пластины благодаря постоянным условиям контроля через герметичную среду контроля. Мощный детектор, микрофокусная трубка Ultra и поликапиллярная оптика для самых маленьких точек измерения гарантируют выдающуюся производительность измерений. Решение для автоматизации предлагается в виде предварительно разработанного решения. Воспользуйтесь преимуществами существующего аппаратного и программного обеспечения. Вместе мы модифицируем и адаптируем устройство автоматизации в соответствии с вашими требованиями. Полностью автоматизированное. Разработано в качестве самостоятельного устройства для программируемого и плавного процесса измерения Продуманные детали для удобства использования. Встроенное видеонаблюдение за всем процессом обработки Простота обслуживания. Большие сервисные люки для доступа к отдельным компонентам Цифровой импульсный процессор DPP+. Сокращение времени измерения или улучшение стандартного отклонения* Совместимость с чистыми помещениями. Отсутствие загрязнения пластин, а также постоянные условия измерения Программируемый. Автоматическое распознавание и приближение точек измерения Самая передовая поликапиллярная оптика на рынке. Наша поликапиллярная оптика собственного производства обеспечивает превосходные результаты измерений при коротком времени измерения