- Метрология - Лабораторное дело
- Метрология и Испытания
- Испытательная система для интегральных схем
- Fujian Nebula Electronics Co., Ltd.
- Продукция
- Каталоги
Испытательная система для интегральных схем BAT-NEDQ-04-V010переноснаямодульнаясверхточная
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
Характеристики
- Применение
- для интегральных схем
- Форма
- переносная, модульная
- Спецификации
- сверхточная, многоканальная
Описание
Это устройство предназначено для быстрой оценки основных и защитных характеристик плат защиты литий-ионных аккумуляторов с одной шиной для аккумуляторов 1s и 2s, использующих компасы IC серии US TI (например, BQ27742, BQ277410, BQ28z610, BQ27541, BQ27545, BQ2753X).
Совместимость с широким спектром ИС газового датчика, высокая точность и высокая скорость тестирования.
Обладая высокой степенью точности, он является идеальным выбором для наших взыскательных клиентов.
Другие изделия Fujian Nebula Electronics Co., Ltd.
PCM TEST SYSTEM
Расширенный поиск
- Тестер
- Переносной тестер
- Цифровой тестер
- Тестер напряжения
- Тестер для промышленности
- Автоматический тестер
- Испытательная система
- Тестер сопротивление
- Тестер для аккумулятора
- Настольный тестер
- Электрический тестер
- Тестер грузоподъемности
- Тестер мощность
- Тестер тока утечки
- Тестер для измерения температуры
- Мобильный тестер
- Тестер частота
- Переносная испытательная система
- Испытательная система для лабораторий
- Модульная испытательная система
* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.