Оптический профилометр 35 nm - 3 µm | F42
для анализа тонких слоев

Оптический профилометр - 35 nm - 3 µm | F42 - Filmetrics Inc. - для анализа тонких слоев
Оптический профилометр - 35 nm - 3 µm | F42 - Filmetrics Inc. - для анализа тонких слоев
Оптический профилометр - 35 nm - 3 µm | F42 - Filmetrics Inc. - для анализа тонких слоев - изображение - 2
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Технология
оптический
Функция
для анализа тонких слоев

Описание

Filmetrics F42 может составить карту толщина пленок, как OSP, на излишек этапы one-million, каждое с размером места как малым как 3 микрона. Используя интегрированную камеру CCD, видео в реальном маштабе времени делает его легким pinpoint точные положения измерения. Как только характеристика в области видимости, просто нарисуйте коробку вокруг ее для того чтобы проанализировать ее. Размер места Пиксел-Ширины Измерение толщины сделано на каждом одиночном показанном пикселе, производящ размеры места как малые как 3 микрона. Это позволяет измерениям быть сделанным в даже самом узком каналов и полостей. Составлять карту Единообразие можно проверить на этих структурах с возможностью системы F42 составляя карту. С одним щелчком, над толщинами миллиона индивидуалов смогите быть высчитано и показано в easy-to-read карте градиента. Средняя толщина и другие статистик автоматически сообщены пока сообщающ потребителя всех out-of-range измерений толщины. Используя доброта--приспособьте критерии, характеристики интереса смогите быть составлено карту пока исключающ все другие области

---

* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.