Детектор неполадок с многоэлементными преобразователями OmniScan® X3 64

метод полной фокусировкиFTPпереносной

«Портативная» мощность Дефектоскоп OmniScan X3 64 в проверенном на практике прочном корпусе, с мощными возможностями фокусировки и широкой апертурой, позволяет в полной мере использовать 64-элементные ПФР и 128-элементную апертуру TFM. Используйте его улучшенные характеристики для контроля толстых материалов и материалов с высоким уровнем затухания; расширьте свой потенциал для разработки новых процедур в широком спектре применений. OmniScan™ X3 — дефектоскоп на фазированных решетках с методом TFM Прибор, которому можно доверять OmniScan X3 — полностью усовершенствованный современный дефектоскоп на фазированных решетках. Мощные инструменты, — включая метод общей фокусировки (TFM) и усовершенствованные средства визуализации, подкрепленные высоким качеством изображения, — позволят вам с большей уверенностью выполнить контроль. Возможность заранее проверить охват луча TFM Карта акустического воздействия (AIM) предоставляет мгновенную визуальную модель чувствительности, с учетом выбранного режима, настроек и отражателя. Инструмент AIM позволяет визуализировать воздействие группы волн (в режиме TFM), определить зону наименьшей чувствительности и скорректировать, при необходимости, план сканирования.