Испытательная система для лабораторий TRA-200

компактнаясверхточная

TRA-200/300 ПРИВЕЛО ТЕПЛОВОЕ СОПРОТИВЛЕНИЕ СТРУКТУРЫ АНАЛИЗА СИСТЕМЫ Внедрение запатентованных технологий с функцией высокоточного структурного анализа Светодиодный анализатор структуры теплосопротивления TRA-200/300 предназначен для измерения термического сопротивления, относительного термического сопротивления и температуры соединения, а также соответствующих кривых Кроме того, система может автоматически анализировать функцию кумулятивной и дифференциальной тепловой структуры, что необходимо для анализа и оценки теплового управления светодиодами. Основные стандартные образцы EIA/JESD 51-1~14 Метод термического измерения интегральных микросхем MIL-STD-750D Метод испытания полупроводникового прибора SJ 20788-2000 Метод испытания полупроводниковых диодов на термическое сопротивление ГБ / Т 4023-1997 Полупроводниковые устройства Дискретные устройства и встроенные токи Часть 2: Выпрямительные диоды QB / T 4057-2010 Требования к работе светоизлучающих диодов для общего освещения Параметр Внедрение запатентованных технологий с функцией высокоточного структурного анализа Светодиодный анализатор структуры теплосопротивления TRA-200/300 предназначен для измерения термического сопротивления, относительного термического сопротивления и температуры соединения, а также соответствующих кривых Кроме того, система может автоматически анализировать функцию кумулятивной и дифференциальной тепловой структуры, что необходимо для анализа и оценки теплового управления светодиодами. Основные стандартные образцы EIA/JESD 51-1~14 Метод термического измерения интегральных микросхем MIL-STD-750D Метод испытания полупроводникового прибора SJ 20788-2000 Метод испытания полупроводниковых диодов на термическое сопротивление ГБ / Т 4023-1997 Полупроводниковые устройства Дискретные устройства и встроенные токи Часть 2: Выпрямительные диоды