Испытательная система рабочих характеристик HATINA GP
для использования в автомобиляхдля электронной промышленностидля интегральных схем

Испытательная система рабочих характеристик - HATINA GP - Cosmic Equipment S.p.A. - для использования в автомобилях / для электронной промышленности / для интегральных схем
Испытательная система рабочих характеристик - HATINA GP - Cosmic Equipment S.p.A. - для использования в автомобилях / для электронной промышленности / для интегральных схем
Испытательная система рабочих характеристик - HATINA GP - Cosmic Equipment S.p.A. - для использования в автомобилях / для электронной промышленности / для интегральных схем - изображение - 2
Испытательная система рабочих характеристик - HATINA GP - Cosmic Equipment S.p.A. - для использования в автомобилях / для электронной промышленности / для интегральных схем - изображение - 3
Испытательная система рабочих характеристик - HATINA GP - Cosmic Equipment S.p.A. - для использования в автомобилях / для электронной промышленности / для интегральных схем - изображение - 4
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению

Характеристики

Тип тестов
рабочих характеристик
Область
для использования в автомобилях, для электронной промышленности
Применение
для интегральных схем, для PMIC, для полупроводников
Форма
модульная, компактная
Другие характеристики
сверхточная, сильного тока, многоканальная, высокого напряжения

Описание

Обзор продукта
HATINA GP — платформа автоматизированного тестирования (ATE), разработанная для характеристических и производственных испытаний Smart Power IC и SoC с высоким уровнем параллельности. Система имеет модульный главный каркас, конфигурируемый до 10 слотов, интегрирующий аналоговые/питание источники, цифровые каналы и современные измерительные приборы в компактной и энергоэффективной платформе. Управление осуществляется через графический интерфейс; ПО Kronos обеспечивает автоматическую генерацию тестовых программ.

Ключевые возможности
HATINA GP поддерживает гибкую комплектацию инструментов в каждом слоте: высокоскоростные цифровые каналы, источники DC высокой силы тока и прецизионные измерительные модули. Модульный каркас упрощает масштабирование и обслуживание. Ресурсы на слот включают цифровой I/O, PPMU и активные нагрузки, высокотоковые DCS-модули, AWG, цифроизмеритель и дифференциальные вольтметры. Система применима для тестирования на уровне пластин (wafer) и запакованных устройств.

Причины выбора
  • Интегрированный мультиплексор снижает сложность load-board
  • Параллельная эффективность тестирования >99% для минимизации стоимости теста (COT)
  • Модульная инструментальная архитектура позволяет соответствовать требованиям рынка и технологий
  • Компактные габариты и сниженное энергопотребление для оптимизации эксплуатационных расходов
  • Автоматическая генерация тестовых программ с Kronos для сокращения времени разработки

Обзор / Сценарии применения
Разработан для параллельного тестирования ASIC, PMIC, Smart Power IC/SoC в автомобильной, промышленной и силовой электронике. Поддерживает wafer-level и пакетные тесты, упрощает проектирование load-board и интегрируется в автоматизированные производственные линии. Типичные ресурсы на слот: цифровые каналы (до 256 CH на слот; некоторые платы поддерживают более высокие скорости), высокотоковые DC-источники, прецизионные измерительные модули, AWG и цифроизмеритель.

Краткая спецификация
  • Семейство моделей: HATINA GP (универсальный ATE)
  • Главный каркас: модульный, до 10 слотов
  • Габариты (D×W×H): 640 mm × 670 mm × 700 mm
  • DCS HP: 16 каналов, ±80 V / ±10 A, плавающий
  • DCS LP: 160 каналов, -80 V / +110 V @ ±200 mA
  • DCS MP: 80 каналов, -80 V / +110 V @ ±4 A
  • Цифровой блок: до 256 цифровых каналов на слот; 256 CH на плату; PPMU; активная нагрузка
  • Память паттернов: 64M на контакт (до 128M)
  • Глубина памяти: 64M векторов DSIO / HRAM на контакт
  • AWG: 16 каналов, 400 MSPS
  • Цифроизмеритель / TMS: 16 каналов, 80 MSPS
  • Дифференциальный вольтметр: 16 каналов
  • Цифровые каналы на слот: зависит от платы (в подробных материалах указано до 800 MHz)
  • Программное обеспечение: интегрированный набор инструментов Kronos для автоматической генерации тестовых программ

Салоны

Вы сможете встретиться с этим поставщиком на выставке(-ах)

Semicon
Semicon

10-13 нояб. 2026 Munich (Германия)

  • Дополнительная информация
    * Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.