Объектив со строчной разверткой сверхвысокого разрешения
Подходит для камер строчной развертки 16K5μ/3,5μ
Разрешение до 1 мк
Искажение менее 0,001%
Максимальная окружность изображения φ82
Высокая однородность от центра изображения до края
Применяется для обнаружения OLED экранов
ПРИМЕНЕНИЕ
Промышленность
Дефекты/пятна
Проверка наличия дефектов/пятен на стальных пластинах
Электронные детали
Определить наличие / Определить классификацию
Определение количества микрочипов и маркировка дефектов
Дефект / пятно
Обнаружить дефекты камеры
Электронное оборудование
дентифицировать наличие / Определить классификацию
Обнаружение плохого скрепления и обрыва проводов
провода двигателя
---