Объектив для микроскопа сканирования области FA 15/16A Series
для обнаружениядля идентификацииобнаружение полупроводниковых схем

Объектив для микроскопа сканирования области - FA 15/16A Series - Chiopt - для обнаружения / для идентификации / обнаружение полупроводниковых схем
Объектив для микроскопа сканирования области - FA 15/16A Series - Chiopt - для обнаружения / для идентификации / обнаружение полупроводниковых схем
Объектив для микроскопа сканирования области - FA 15/16A Series - Chiopt - для обнаружения / для идентификации / обнаружение полупроводниковых схем - изображение - 2
Объектив для микроскопа сканирования области - FA 15/16A Series - Chiopt - для обнаружения / для идентификации / обнаружение полупроводниковых схем - изображение - 3
Объектив для микроскопа сканирования области - FA 15/16A Series - Chiopt - для обнаружения / для идентификации / обнаружение полупроводниковых схем - изображение - 4
Объектив для микроскопа сканирования области - FA 15/16A Series - Chiopt - для обнаружения / для идентификации / обнаружение полупроводниковых схем - изображение - 5
Объектив для микроскопа сканирования области - FA 15/16A Series - Chiopt - для обнаружения / для идентификации / обнаружение полупроводниковых схем - изображение - 6
Объектив для микроскопа сканирования области - FA 15/16A Series - Chiopt - для обнаружения / для идентификации / обнаружение полупроводниковых схем - изображение - 7
Объектив для микроскопа сканирования области - FA 15/16A Series - Chiopt - для обнаружения / для идентификации / обнаружение полупроводниковых схем - изображение - 8
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Тип
сканирования области
Техническое применение
для обнаружения, для идентификации, обнаружение полупроводниковых схем, для предметного осмотра
Другие характеристики
с незначительным искажением
Фокусное расстояние

МИН.: 6 mm
(0,24 in)

МАКС.: 50 mm
(1,97 in)

Описание

1.1 20MP Сверхвысокое качество изображения Поддержка камер 20MP для сканирования области Высокая относительная освещенность, с большой диафрагмой Искажение <0,1% Диапазон фокусировки от 0,1 м до бесконечности Совместимость с датчиками 1 '' и 2 / 3 " ПРИМЕНЕНИЕ Электронные детали Определение наличия / определение классификации Определение количества микрочипов и маркировка дефектов Дефект / пятно Обнаружить дефекты камеры Жидкокристаллические, полупроводниковые, другие Геометрические измерения Обнаружение изгиба выводов ИС Электронные детали Разъем Определение плоскостности контактов разъема

---

Каталоги

Chiopt Company Introduction
Chiopt Company Introduction
31 Страницы

Другие изделия Chiopt

FIXED LENS FOR FA

* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.