линзы большого формата 8k5μ
Сверхвысокое разрешение для 3,2μ
Поддержка матриц от 29MP до 65MP
Лучшие оптические характеристики, чем у зеркальных объективов
Доступны стандартные ЭФР и увеличение
Применяется для широкоформатного и высокоточного обнаружения
ПРИМЕНЕНИЕ
Промышленность
Дефекты/пятна
Проверка наличия дефектов/пятен на стальных листах
Электронное оборудование
Определить наличие / Определить классификацию
Определите цвет аккумуляторного блока
Электронные части
Высота
Обнаружить металлические метки
Жидкокристаллические, полупроводниковые, другие
Подсчет
Подсчет количества SD-карт
---