Сканер 3D ABIS III

для контроля поверхности

ZEISS ABIS III сочетает в себе высокоскоростной контроль с надежным обнаружением всех соответствующих дефектов поверхности, таких как вмятины, выпуклости, раковины, рябь, вырезы, трещины, а теперь также царапины и следы давления. Система воспроизводимо и высокоточно проверяет как движущиеся, так и неподвижные детали в процессе производства и в пределах времени цикла. Более того, она подходит не только для поточного, но и для поточного использования в производственных условиях. Запатентованная технология Multi-Color-Light позволяет обнаружить даже самые мелкие дефекты. Всего через несколько секунд будет выдан цифровой отчет о проверке. Таким образом, такие функции, как Q-стоп и цифровые детали качества, например, визуализация дефектов для плановой доработки, всегда доступны. Они являются основой для замкнутых контуров и предпосылкой для внедрения интеллектуального управления процессом. Спроектированный и разработанный в Германии для соответствия самым высоким стандартам качества, ZEISS ABIS III является идеальным решением как для современных прессовых цехов, так и для кузовных цехов, ориентированных на будущее. Одним из технических преимуществ в этом контексте является недавно разработанный модуль MCL. Запатентованная технология Multi-Color-Light позволяет обнаруживать мельчайшие дефекты с частотой до 20 Гц и временем оценки менее 0,5 секунды на сканирование датчика. В сочетании с программным обеспечением ZEISS ABIS V20 характеристики поверхности определяются в течение нескольких секунд и оцениваются в соответствии с требованиями отдельных корпоративных стандартов. Программное обеспечение визуализирует такие типы дефектов, как вмятины, выпуклости, рябь, вырезы и линии заноса в режиме реального времени и сохраняет результаты проверки в цифровой форме в базе данных.