Оптический микроскоп BMM series

металлографическийполяризационныйтемного поля

Промышленные контрольно-измерительные микроскопы BMM-2000/BMM-2000BD предназначены для наблюдения за структурой поверхностей и геометрией заготовок. Он оснащен отличной оптической системой UIS и модульной функцией проектирования, так что обновление системы целесообразно и достигается поляризация, наблюдение в темном поле. Подъем или опускание оптического и осветительного блока вдоль лидера для регулировки расстояния от этапа до объектива, что позволяет использовать для заготовок различной толщины. Быстрое и эффективное нахождение наблюдаемой части заготовки путем перемещения механической ступени. Движение фокусировки является ролл, что роликовый подшипник перемещается направляя тригон скольжения, так что процесс перемещения является гладким. Это идеальный оптический инструмент для проверки и измерения в области прецизионных деталей, интегральных схем, упаковочных материалов и т.д.