Дифрактометр с рентгеновским излучением D8 DISCOVER
XRDSAXSWAXS

дифрактометр с рентгеновским излучением
дифрактометр с рентгеновским излучением
дифрактометр с рентгеновским излучением
дифрактометр с рентгеновским излучением
дифрактометр с рентгеновским излучением
дифрактометр с рентгеновским излучением
дифрактометр с рентгеновским излучением
дифрактометр с рентгеновским излучением
дифрактометр с рентгеновским излучением
дифрактометр с рентгеновским излучением
дифрактометр с рентгеновским излучением
дифрактометр с рентгеновским излучением
дифрактометр с рентгеновским излучением
дифрактометр с рентгеновским излучением
дифрактометр с рентгеновским излучением
дифрактометр с рентгеновским излучением
дифрактометр с рентгеновским излучением
дифрактометр с рентгеновским излучением
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Тип
с рентгеновским излучением, XRD, SAXS, GISAXS, WAXS
Применение
для лабораторий
Спецификации
высокое разрешение

Описание

Наиболее универсальное и гибкое решение для рентгенографии, идеально соответствующее требованиям исследований, разработок и контроля качества в промышленности и научных кругах. Источники рентгеновского излучения с выдающимся блеском, такие как микрофокусный рентгеновский источник IµS и высокобриллиантовый турбо рентгеновский источник HB-TXS. D8 DISCOVER - это флагманский многоцелевой рентгеновский дифрактометр, предлагающий ведущие технологические компоненты. Он предназначен для структурной характеризации всего спектра материалов от порошков, аморфных и поликристаллических материалов до эпитаксиальных многослойных тонких пленок в условиях окружающей среды и вне ее. Применения: Идентификация и количественное определение фаз, определение и уточнение структуры, анализ микродеформации и размера кристаллитов, Рентгеновская рефлектометрия, дифракция падающего излучения (GID), дифракция в плоскости, рентгенография высокого разрешения, GISAXS, анализ GI-напряжений, анализ ориентации кристаллов Анализ остаточных напряжений, текстура и фигуры полюсов, микрорентгеновская дифракция, широкоугольное рентгеновское рассеяние (WAXS), Анализ полного рассеяния: Брэгг-дифракция, функция парного распределения (PDF), малоугловое рентгеновское рассеяние (SAXS)

---

Каталоги

Для этого товара не доступен ни один каталог.

Посмотреть все каталоги Bruker Handheld XRF Spectrometry

Салоны

Вы сможете встретиться с этим поставщиком на выставке(-ах)

ACHEMA 2024
ACHEMA 2024

10-14 июн. 2024 Frankfurt am Main (Германия)

  • Дополнительная информация
    * Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.