Спектрометр XRF M6 JETSTREAM
для лабораторийдля промышленностидля измерений

Спектрометр XRF - M6 JETSTREAM - Bruker AXS - для лабораторий / для промышленности / для измерений
Спектрометр XRF - M6 JETSTREAM - Bruker AXS - для лабораторий / для промышленности / для измерений
Спектрометр XRF - M6 JETSTREAM - Bruker AXS - для лабораторий / для промышленности / для измерений - изображение - 2
Спектрометр XRF - M6 JETSTREAM - Bruker AXS - для лабораторий / для промышленности / для измерений - изображение - 3
Спектрометр XRF - M6 JETSTREAM - Bruker AXS - для лабораторий / для промышленности / для измерений - изображение - 4
Спектрометр XRF - M6 JETSTREAM - Bruker AXS - для лабораторий / для промышленности / для измерений - изображение - 5
Спектрометр XRF - M6 JETSTREAM - Bruker AXS - для лабораторий / для промышленности / для измерений - изображение - 6
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению

fo_shop_gate_exact_title

Характеристики

Тип
XRF
Область применения
для лабораторий, для измерений, для промышленности
Конфигурация
мобильный
Тип детектора
SDD
Другие характеристики
высокое разрешение

Описание

Микрорентгенография больших образцов (также называемая макрорентгенографией или MA-XRF) стала решающим методом для анализа картин, геологических образцов, археологических артефактов и промышленных компонентов. M6 JETSTREAM позволяет проводить такие анализы с высочайшей скоростью и точностью. Благодаря мобильной колесной базе и регулируемой раме M6 JETSTREAM можно использовать на месте вместо транспортировки образца в лабораторию. Измерение вертикальных образцов или горизонтальных поверхностей Сканируемая площадь до 800 x 600 мм² анализ "на лету" для максимальной скорости картирования Регулируемый размер пятна в соответствии со структурой образца Технология XFlash® SDD с площадью детектора до 2 x 60 мм² Дополнительная система управления диафрагмой (AMS) для достижения глубины фокуса на неровных поверхностях Получение пространственно разрешенной информации о распределении элементов практически на любой поверхности Регистрация данных на больших площадях за один прогон Сочетание оптических изображений высокого разрешения с полным спектром на пиксель в одном наборе данных HyperMap Обработка данных и извлечение из карт спектров объектов, линейных разверток и химических фаз Количественная оценка спектров с помощью бесстандартных методов фундаментальных параметров (FP) Сократите затраты и время, избежав логистики и обеспечив безопасность ценных объектов Скрытые детали в выцветших пигментах, "Гомер" Рембрандта Исследование использования Рембрандтом смальты в своих красках для создания глубины цвета и текстуры на его картинах. Карты MA-XRF выявляют мелкие детали, потерянные в результате разрушения пигмента.

---

ВИДЕО

Каталоги

Для этого товара не доступен ни один каталог.

Посмотреть все каталоги Bruker AXS

Салоны

Вы сможете встретиться с этим поставщиком на выставке(-ах)

CIOE 2025
CIOE 2025

10-12 сент. 2025 Shenzhen (Китай)

  • Дополнительная информация
    K 2025
    K 2025

    8-15 окт. 2025 Düsseldorf (Германия) Зал Salle 11 - Стенд A59

  • Дополнительная информация
    * Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.