Измерительный инструмент SAXS NANOSTAR

измерительный инструмент SAXS
измерительный инструмент SAXS
измерительный инструмент SAXS
измерительный инструмент SAXS
измерительный инструмент SAXS
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению

Характеристики

Технология
SAXS

Описание

NANOSTAR со своей несравнимой модульностью идеальный инструмент для характеризации nanostructures выстраивая в ряд от 1 nm до грубо 125 nm, и nanostructured поверхности SAXS, GISAXS и Nanography. Зеркал-подготовленная система коллимирования pinhole обеспечивает сильно интенсивный, параллельный луч рентгеновского снимка так, что коротких измеряя времен можно достигнуть. В то же время, система коллимирования поддерживает идеальную круговую форму луча и очень эффективна в исключать предпосылку, которая позволяет проанализировать очень слабо разбрасывать образцы так же, как большие структуры. На самом деле, NANOSTAR анализирует чистые свойства образца, даже для не-равносвойственных систем образца. Разрешения модульного проектирования устанавливая расстояние детектор-к-образца от 11,5 mm до 1070 mm. Следовательно, весь ряд от SAXS к WAXS можно покрыть. Особенности Модульная установка для большей гибкости Гениальные источники рентгеновского снимка: IμS, TXS и METALJET Оптика MONTEL с exchangeable системой коллимирования pinhole для высокоинтенсивных потоков/высокого разрешения Низкая система коллимирования предпосылки используя традиционный 3-pinhole или новое SCATEX установка 2-pinhole Большая камера образца приспосабливая разнообразие держатели образца VÅNTEC-2000, большой 2-D детектор с истинным фотоном считая способность Переменное расстояние образц-к-детектора покрывая обширный q-ряд

---

Каталоги

* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.