ОбзорBettersizer 2600 Plus объединяет лазерную дифракцию и динамическое изображение с двойной камерой на модульной платформе для получения взаимодополняющих характеристик размера и формы частиц в широком диапазоне измерений (примерно 0,02–3500 μm, зависит от применения). Система поддерживает влажные и сухие единицы диспергирования для различных типов образцов и объёмов.
Ключевые функции и преимущества- Интегрированный анализ размера и формы: лазерная дифракция для статистических распределений размера и двойная камера для метрик отдельной частицы и визуальной трассируемости.
- Широкий диапазон измерений: от субмикронных частиц до грубых частиц на одной платформе (в зависимости от применения).
- Модульная дисперсия: сменные влажные и сухие блоки для гибкой подготовки образцов и совместимости с растворителями.
- Высокое число детекторов и широкая угловая сборка для надёжных PSD по широкому диапазону размеров.
- Изображения как доказательство: позволяют выявлять агломераты, чрезмерно крупные частицы и нерегулярную морфологию для QC и НИОКР.
Продвинутая система лазерной дифракцииМодуль лазерной дифракции захватывает полные сигналы рассеяния с использованием запатентованной оптики Fourier / inverse‑Fourier и массива из 92 детекторов. Анализ применяет модели Mie и Fraunhofer по необходимости для получения воспроизводимых распределений размеров частиц.
Уверенность при оптически сложных образцахУстройство содержит функцию измерения показателя преломления для валидации оптических параметров, используемых в моделях Mie, что повышает надёжность при работе с оптически сложными или неизвестными материалами.
Основные показатели производительности- Покрытие от мелких до грубых частиц; полные измерения возможны за ~10 с (в зависимости от применения).
- Конструкция ориентирована на точность и повторяемость, удовлетворяющие требованиям QA/QC и НИОКР (в отчётах в применимых случаях зафиксированы показатели лучше 0,5 %).
Система динамического изображений с двойной камеройМодуль PIC‑1 с двумя камерами записывает высокоскоростные изображения частиц во время измерения, формируя параметры размера и формы и предоставляя трассируемые изображения отдельных частиц. Режимы: только изображение или комбинированный режим (изображение + лазерная дифракция).
Модульная конструкция и гибкость дисперсииПлатформа поддерживает разные влажные и сухие дисперсионные блоки для адаптации к различным матрицам образцов, объёмам и растворителям, что позволяет одному прибору решать множество задач в разных отраслях.
Программное обеспечение и данныеКомбинированные измерения дают взаимодополняющие данные по размеру и форме в одном наборе результатов. Изображения частиц и статистика экспортируются для аудита, документации QC и углублённого анализа морфологии.
Технические характеристики- Модель: Bettersizer 2600 Plus
- Технология: лазерная дифракция + динамическое изображение с двойной камерой (модульная)
- Общая диапазонность платформы: номинально 0,02–3500 μm (зависит от конфигурации и приложения)
- Типичный диапазон лазерной дифракции: 0,02–2600 μm (зависит от системы)
- Динамическое изображение (PIC‑1): 2–3500 μm
- Детекторы: массив из 92 детекторов
- Угловое покрытие: ~0,016°–165°
- Кювета: наклонная конструкция для снижения полного внутреннего отражения
- Увеличения изображения: 0,5× и 10×; частота кадров: 70 fps
- Сообщаемое время измерения: полные измерения от порядка 10 с (зависит от приложения)
- Точность / повторяемость: сообщается лучше 0,5 % (где применимо)
- Выходы изображения: до 32 параметров размера и формы и изображения частиц
- Дисперсия: поддержка модульных влажных и сухих блоков
- Стандарты: лазерная дифракция разработана для соответствия ISO 13320 при применимости
- Оптическая система: запатентованная оптика Fourier / inverse‑Fourier
- Производитель: Bettersize Instruments