Лазерный дифракционный анализатор размера частиц LS 13 320 XR
LS 13 320 XR - инструмент, который выводит лазерный дифракционный анализ размера частиц на новый уровень. Благодаря усовершенствованной технологии PIDS он характеризуется высокой разрешающей способностью, расширенным динамическим диапазоном измерений и предоставляет самые точные данные по распределению размеров частиц в сравнении с аналогичными инструментами.
Подобно предыдущей версии LS 13 320 анализатор LS 13 320 XR позволяет быстро получать надежные результаты и оптимизировать эффективность рабочих процессов. А некоторые существенные улучшения помогают обнаруживать малейшие отличия, которые способны повлиять на результаты анализа данных.
• Расширенный диапазон прямых измерений: 10 нм – 3 500 мкм
• Ускоренный контроль качества: автоматическое выявление непригодных результатов
• Оптимизированное ПО упрощает создание методов для стандартизованных измерений
• Метод рекомендован в XIII издании Российской Фармакопеи ОФС.1.2.1.0008.15 "Определение распределения частиц по размеру методом лазерной дифракции света"
• Метод определен стандартом ISO 13320 "Гранулометрический анализ. Методы лазерной дифракции"
Возможности измерений
• Диапазон измерений: 10 нм – 3 500 мкм
• 126 детекторов прямого светорассеяния
• 6 детекторов PIDS
• 2 модуля подачи образцов: для порошков и жидкостей
• Среднее время анализа: 30 – 90 сек
Технологии
• Прямое светорассеяние под малыми углами
• Технология PIDS: анализ различий в паттернах рассеяния вертикально и горизонтально поляризованного света 3-х длин волн (450, 600 и 900 нм) под 6 углами
Простое ПО
• Автоматический контроль качества