Камера Andors PV Inspector NIR разработана для обеспечения максимальной скорости и чувствительности для поточного электро- и фотолюминесцентного контроля, обеспечивая > 90% QE за пределами 800 нм и используя технологию Fringe Suppression Technology™ для минимизации эффектов окаймления в NIR
- QE > 90% за пределами 800 нм
- Скорость считывания 5 МГц и 3 МГц
- Кольцевой режим двойной экспозиции
- Технология Fringe Suppression™
- UltraVac™
БИК-камера Andor PV Inspector разработана с целью обеспечения максимальной скорости и чувствительности для поточного электро- и фотолюминесцентного контроля, обеспечивая > 90% QE за пределами 800 нм и используя технологию Fringe Suppression Technology™ для минимизации эффекта окаймления в БИК. Массив 1024 x 1024 пикселей имеет высокое разрешение 13 мкм и обладает незначительными темновыми токами при термоэлектрическом охлаждении до -70°C. PV Inspector обеспечивает высочайшую в отрасли производительность за счет высокой скорости считывания до 5 МГц в сочетании с уникальным режимом "двойного кольца экспозиции", позволяющим быстро переключать экспозицию. Запираемый порт USB 2.0 обеспечивает надежное виброустойчивое соединение.
Повышенная чувствительность БИК и уникальные высокоскоростные режимы PV Inspector позволяют проводить EL-инспекцию с двойной экспозицией со скоростью более 1 ячейки в секунду, что идеально подходит для систем контроля фотоэлектрических элементов с очень высокой пропускной способностью, например, в стрингерах и сортировщиках ячеек. Быстрая съемка с двойной экспозицией позволяет проводить количественные измерения ячеек при различных уровнях смещения.
---