Приборы для контроля для полупроводниковых пластин

7 компании | 21 товара
презентуйте свою продукцию

& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год

Стать участником выставки
{{#pushedProductsPlacement4.length}} {{#each pushedProductsPlacement4}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement4.length}}
{{#pushedProductsPlacement5.length}} {{#each pushedProductsPlacement5}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement5.length}}
прибор для контроля дефектов
прибор для контроля дефектов
CT1000

... возможность 3D-наблюдения способствует "сокращению цикла разработки" и "повышению качества продукции" устройства G&C* После автоматической транспортировки пластины размером до 200 мм CT1000 точно перемещается к критической позиции образца ...

прибор для контроля дефектов
прибор для контроля дефектов
CR7300 series

... Встроенный обзорный SEM, способствующий повышению производительности благодаря высокоскоростному ADR и точному ADC - Улучшенное разрешение изображений SEM для разработки передовых устройств и массового производства - Новое решение in-situ ...

оптический прибор для контроля
оптический прибор для контроля
LS series

... Система контроля поверхности пластин серии LS может обнаруживать дефекты на нешаблонных пластинах с зеркально обработанной поверхностью. Применяемая технология лазерного рассеяния позволяет достичь высокой чувствительности и высокой пропускной ...

прибор для контроля для полупроводниковой пластины
прибор для контроля для полупроводниковой пластины

прибор для контроля с рентгеновским излучением
прибор для контроля с рентгеновским излучением
MFM310

оптический прибор для контроля
оптический прибор для контроля
29xx series

... 29xx Широкополосные системы контроля дефектов пластин с плазменным рисунком Широкополосные системы плазменного контроля дефектов серии 295x обеспечивают прогресс в оптическом контроле дефектов, позволяя обнаруживать критические для выхода ...

Показать другие изделия
KLA - TENCOR
прибор для контроля 3D
прибор для контроля 3D
Proforma 300SA series

... Полное сканирование поверхности пластины на предмет толщины, изменения толщины, перекоса, искривления, сори, площадки и глобальной плоскостности Измеряет толщину, TTV, изгиб, искривление, площадку и глобальную плоскостность. Особенности Эксклюзивные ...

прибор для контроля для полупроводниковой пластины
прибор для контроля для полупроводниковой пластины
Firefly®

... Серия инспекторов Firefly представляет собой решение для автоматизированного контроля для высокопроизводительных приложений, таких как FPGA, ЦП/ГПУ и сетевые серверы, в дополнение к приложениям с низким количеством входов/выходов: Водитель ...

Показать другие изделия
Onto Innovation Inc.
оптический прибор для контроля
оптический прибор для контроля
MRD-3100 series

... Ball AOI / Bump AOI Prodcut Presentation Оборудование для контроля частиц серии MRD-3100 для COG, FOG и COF продукции, в частности для обнаружения дефектов скрепления модуля ЖК-дисплея. Лидирует в отрасли, достигая технического уровня ...

презентуйте свою продукцию

& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год

Стать участником выставки