＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
Пространственное разрешение: 3, 8, 7 nm
Вес: 10 kg
... Гибкий, простой в использовании прибор SEM EDS, обеспечивающий мгновенный количественный элементный анализ. СЭМ-изображение и элементный анализ EDS Несмотря на то, что сканирующая электронная микроскопия (СЭМ) достигла огромных успехов, ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
электронный сканирующий микроскопVerios 5 XHR
Пространственное разрешение: 0,7, 1, 0,6 nm
... Сканирующая электронная микроскопия характеризует наноматериалы с субнанометровым разрешением и высоким контрастом материала. Сканирующий электронный микроскоп Verios 5 XHR СЭМ Verios 5 XHR обеспечивает субнанометровое разрешение во ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Пространственное разрешение: 1,3, 1, 0,8, 3 nm
... Экологический растровый электронный микроскоп (ESEM) для изучения материалов в их естественном состоянии. Экологический сканирующий электронный микроскоп Quattro Thermo Scientific Quattro ESEM сочетает в себе всестороннюю производительность ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Увеличение : 5 unit - 800 000 unit
Пространственное разрешение: 15, 4, 3 nm
... Производительность и мощность в гибкой платформе Сканирующие электронные микроскопы SU3800/SU3900 компании Hitachi High-Tech обладают высокой производительностью и расширяемостью. Оператор может автоматизировать многие операции и эффективно ...
Увеличение : 6 unit - 800 000 unit
Пространственное разрешение: 4, 5, 15 nm
... В VP-SEM FlexSEM 1000 II сочетаются инновационные технологические характеристики с интуитивно понятным интерфейсом, что обеспечивает адаптивность и гибкость в мощном, автоматизированном, удобном для работы в лаборатории корпусе. Передовые ...
Увеличение : 10 unit - 25 000 054 unit
Вес: 54 kg
Длина: 614, 617 mm
... Серия TM4000 отличается инновациями и передовыми технологиями, которые по-новому определяют возможности настольных микроскопов. Это новое поколение давно известных настольных микроскопов Hitachi (TM) объединяет в себе простоту использования, ...
... В области промышленного качества, анализа неисправностей или исследований сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) является оптимальным решением для металлографии и анализа неисправностей благодаря своей способности получать изображения ...
ZEISS Industrial Metrology
Увеличение : 300 000 unit
Пространственное разрешение: 3, 4, 8 nm
Вес: 480 kg
... CIQTEK SEM3200 - высокопроизводительный растровый электронный микроскоп с вольфрамовой нитью. Он обладает отличным качеством изображения, совместимостью с режимом низкого вакуума, высоким разрешением изображений в различных полях зрения. ...
Увеличение : 1 unit - 2 500 000 unit
Пространственное разрешение: 0,6 nm
Вес: 400 kg
... SEM5000X - это полевой эмиссионный сканирующий электронный микроскоп сверхвысокого разрешения (FE-SEM) с прорывным разрешением 0,6 нм@15 кВ и 1,0 нм@1 кВ. Благодаря усовершенствованному процессу проектирования колонн, технологии "SuperTunnel" ...
... Семейство ZEISS Sigma сочетает в себе технологию полевого эмиссионного сканирующего электронного микроскопа (FE-SEM) с превосходным пользовательским интерфейсом. Структурируйте свои процедуры получения изображений и анализа и повысьте ...
ZEISS Métrologie industrielle
Увеличение : 3 500 unit - 100 000 unit
... JSM-7900F - новый флагманский FE-SEM компании JEOL, сочетающий в себе чрезвычайно высокое разрешение изображения, повышенную стабильность и исключительную простоту использования для оператора любого уровня в многоцелевой среде. Neo Engine（Новый ...
Jeol
... Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) четвертого поколения TESCAN VEGA с источником электронов на основе вольфрамовой нити сочетает в одном окне программного обеспечения Essence™ компании TESCAN VEGA визуализацию СЭМ и анализ живого ...
Tescan GmbH
Увеличение : 1 000 000 unit
Пространственное разрешение: 3 nm
＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
Уточните, пожалуйста
Помогите нам улучшить качество наших услуг:
осталось