＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
... Камера для профилирования луча. 4.кМОП-сенсор высокого разрешения 2 Мпикс, измерения в соответствии с ISO. USB 3.0 ДЛЯ САМОЙ ВЫСОКОЙ СКОРОСТИ ПЕРЕДАЧИ ДАННЫХ До 10 раз быстрее, чем обычные соединения USB 2.0 (также совместимы с USB 2.0) ВЫСОКОЕ ...
... Камера для профилирования луча с люминофорным покрытием для ИК-волн (1495-1595 нм). 4.кМОП-сенсор высокого разрешения 2 Мпикс, измерения в соответствии с ISO. USB 3.0 ДЛЯ САМОЙ ВЫСОКОЙ СКОРОСТИ ПЕРЕДАЧИ ДАННЫХ До 10 раз быстрее, чем ...
... Камера профилирования луча с волоконно-оптическим сужающим устройством для больших лучей. 4.кМОП-сенсор с высоким разрешением 2 Мпикс, измерения в соответствии с ISO. USB 3.0 ДЛЯ САМОЙ ВЫСОКОЙ СКОРОСТИ ПЕРЕДАЧИ ДАННЫХ До 10 раз быстрее, ...
Бесконтактный профилометр для супер-мощных лазеров 980—1080 нм Описание: Запатентованная бесконтактная система профилирования BeamWatch точно снимает показатели промышленных многокиловаттных лазеров с длиной волны 980—1080 нм и ...
Ophir Optronics
Система профилирования пучков для автоматизированного производства Описание: BeamWatch Integrated — это полностью автоматизированная система измерения параметров лазерного излучения, предназначенная для интеграции измерения критических ...
Ophir Optronics
Описание: BeamWatch AM — это встраиваемая система измерения критических параметров лазерного излучения, предназначенная для систем аддитивного производства на основе лазерных технологий. BeamWatch AM выполняет одновременные измерения ...
Ophir Optronics
Описание: Профилометр ближнего поля использоваться для анализа малых пучков, когда изображение увеличивается линзой микрообъектива и проецируется на ПЗС матрицу. Профилирование ближнего поля используется при анализе волокон и волноводов, ...
Ophir Optronics
... CAM SQUARED Измерительная система М2 "CAM SQUARED", новейший продукт компании Imagine Optic, предлагает точный и надежный анализ качества лазерного луча, ставя новые рекорды по скорости вычисления квадрата М и простоте по сравнению с ...
Duma Optronics
Duma Optronics
Duma Optronics
Duma Optronics
Duma Optronics
Duma Optronics
Duma Optronics
＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
Уточните, пожалуйста
Помогите нам улучшить качество наших услуг:
осталось