Приборы для контроля Hitachi
& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
... пластины размером до 200 мм CT1000 точно перемещается к критической позиции образца или к позиции дефекта, обнаруженного блоком контроля дефектов. Затем можно проводить трехмерное РЭМ-исследование с помощью наклонного ...
... Улучшенное разрешение изображений SEM для разработки передовых устройств и массового производства - Новое решение in-situ для контроля выхода, которое количественно определяет и показывает электрические свойства (R / ...
... широко применяются для контроля загрязнений при производстве полупроводников в масштабе 10 нм, а также для контроля качества поставляемых и входящих пластин. Оптика - Новая оптика обеспечивает высокую ...
& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставкиВаши предложения по улучшению услуг:
- Список брендов
- Личный кабинет производителя
- Личный кабинет покупателя
- Наши услуги
- Подписка на новостную рассылку
- Информация о группе предприятий VirtualExpo
Уточните, пожалуйста
Помогите нам улучшить качество наших услуг:
осталось