SolarLab XM - это специализированный продукт XM (Xtreme Measurement), разработанный совместно с профессором Лори Питер из Университета Бата, Великобритания, и ориентированный в первую очередь на исследования солнечных элементов / фотогальванических элементов.
SolarLab XM включает в себя эталонный потенциостат, анализатор частотной характеристики (FRA) и модуль PhotoEchem, которые обеспечивают полную характеристику широкого спектра солнечных/ PV элементов, включая перовскитовые и красители сенсибилизированные солнечные элементы (DSSC). Кроме того, система может быть использована для разработки фотоэлектрохимических систем видимого спектра, таких как окись железа, фото-распыление воды.
Ключевой особенностью этой системы является простота использования, а анализ данных требует всего одного щелчка мыши! Для опытных пользователей SolarLab XM предлагает возможность разработки новых типов экспериментов с мощным шаговым секвенсором. В комплект поставки SolarLab XM входит:
Технологии частотного и временного диапазона, включая IMPS, IMVS, импеданс, разложение фотоэлектрического напряжения, извлечение заряда, I-V
Автоматический анализ для расчета эффективных коэффициентов диффузии и срока службы электронов
Калибровка источников света с прослеживаемостью NIST
Отличное управление тепловым режимом источников света для долгосрочной стабильности
Широкий диапазон монохроматических светодиодов высокой яркости
Полный набор электрохимических методов (циклическая вольтамперометрия, хронологические методы, гальванические методы, импеданс и вольтамперометрия переменного тока)
Вспомогательные каналы (12-проводные) для одновременного анодного/катодного напряжения и импеданса
Лучший в своем классе анализатор частотной характеристики (FRA) - быстрый односинусоидальный, мультисинусоидальный/быстрое преобразование Фурье, анализ гармоник во всем диапазоне частот
Опция IPCE для квантовых измерений эффективности
---