Оптический микроскоп Eclipse Ci-POL
многоцелевойдля измерений тонкослойных покрытийдля анализов

оптический микроскоп
оптический микроскоп
оптический микроскоп
оптический микроскоп
оптический микроскоп
оптический микроскоп
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Тип
оптический
Применение
для проверки материалов, для контроля поверхности, для анализов, для исследований, для науки о драгоценных камнях, для осмотра неметаллических включений, для измерений тонкослойных покрытий, учебный, промышленный, многоцелевой, для контроля качества, для испытания материалов, для судебной медицины
Эргономика
прямой
Головка микроскопа
тринокулярный, бинокулярный
Метод наблюдения
со светлым фоном, флуоресцентный, поляризационный, спектральный, темного поля, с дифференциальной интерференциальной контрастностью
Конфигурация
настольный, компактный, переносной
Источник света
с коаксиальной подсветкой
Другие характеристики
модульный, с цифровой камерой, высокое разрешение, эргономичный, для определения асбеста, со значительным увеличением, с большим рабочим расстоянием, для обработки изображений, экономичный, простая установка, высококонтрастный, с контролем интенсивности освещения, с переменной температурой, высокой точности, для плоских проб, для захвата изображений
Увеличение

МАКС.: 100 unit

МИН.: 5 unit

Вес

14 kg
(30,9 lb)

Длина

271 mm
(10,7 in)

Ширина

247 mm
(9,7 in)

Высота

455 mm
(17,9 in)

Описание

Поляризационные микроскопы серии ECLIPSE LV100N POL и Ci-POL используются для изучения двулучепреломляющих свойств анизотропных образцов путем наблюдения за контрастом изображения и изменением цвета. Nikon предлагает системы как для количественного, так и для качественного исследования. Все области применения - от исследований до рутинной работы - решены Превосходная оптика Nikon CFI60-POL обеспечивает превосходное изображение в окуляры и на цифровые камеры Nikon. LV100N POL позволяет проводить широкий спектр исследований от коноскопии до ортоскопии с использованием полного набора специальных аксессуаров. Ci-POL позволяет проводить целый ряд исследований на компактном микроскопе. Nikon ECLIPSE LV100N POL и Ci-POL Эти приборы оснащены эпископическим и диаскопическим освещением для минералогического изучения грубых или тонких срезов. Оптически активные материалы могут быть изучены для анализа состава и распределения. Серия объективных линз Nikon CFI60-POL Инновационные объективы POL компании Nikon, не подверженные деформации, с большим рабочим расстоянием, высокой NA, с компонентами из экологического стекла, обеспечивают четкое, высококонтрастное изображение для наблюдателя и цифровой камеры. Диаскопическое и эпископическое освещение Эпископические исследования возможны с осветителем LV-UEPI-N. Лампа 12В-50Вт используется для диаскопического и эпископического освещения. Переключение освещения с эпи- на диаскопическое - простая операция. Полный ассортимент оптических аксессуаров Полный набор аксессуаров для количественного анализа обеспечивается клиновыми компенсаторами Berek, Senarmont и Quartz, поддерживаемыми механическим столиком с верньерной шкалой. длинный ход фокусировки 30 мм Стенды LV100N POL и Ci-POL принимают высокие, грубые образцы благодаря сверхдлинному 30-мм диапазону фокусировки, превышающему обычный диапазон диаскопических моделей микроскопов.

---

Каталоги

Для этого товара не доступен ни один каталог.

Посмотреть все каталоги Nikon Metrology

Другие изделия Nikon Metrology

Industrial Microscopy

* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.