video corpo

Сфокусированный ионный пучок NX9000

сфокусированный ионный пучок
сфокусированный ионный пучок
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Описание

Новая система FIB-SEM от Hitachi, NX9000, имеет оптимизированную компоновку для серийного секционирования с истинным высоким разрешением, что позволяет решать самые современные задачи трехмерного структурного анализа, а также анализа TEM и 3DAP. Система NX9000 FIB-SEM обеспечивает высочайшую точность обработки материалов для широкого спектра областей, связанных с передовыми материалами, электронными устройствами, биологическими тканями и множеством других применений. - Колонна SEM и колонна FIB расположены ортогонально, что позволяет оптимизировать позиционирование колонны для трехмерного структурного анализа. - Сочетание высокояркого источника электронов холодной эмиссии и высокочувствительной оптики позволяет анализировать широкий спектр материалов - от биологических тканей до магнитных материалов. - Система микроотбора образцов и система тройного пучка позволяют проводить высококачественную подготовку образцов для ТЭМ и атомного зонда. Ионное фрезерование и наблюдение при нормальном падении в режиме реального времени для получения истинных аналитических изображений Колонна SEM и колонна FIB расположены ортогонально, что позволяет получать изображения поперечных сечений FIB при нормальном падении SEM. Ортогональное расположение колонн устраняет аспектную деформацию, ракурсное искажение изображений поперечных сечений и смещение поля зрения (FOV) при серийной визуализации сечений, чего не могут избежать обычные системы FIB-SEM. Изображения NX9000 позволяют проводить высокоточный трехмерный структурный анализ. Оптическая корреляционная микроскопия может быть легко применена благодаря преимуществу поверхностно-плоскостной ЭМ визуализации. Cut&See Cut & See поддерживает высококонтрастную визуализацию биологических тканей, полупроводников и магнитных материалов, таких как сталь и никель, с высоким разрешением при низком ускоряющем напряжении.

---

Салоны

Вы сможете встретиться с этим поставщиком на выставке(-ах)

analytica 2024
analytica 2024

9-12 апр. 2024 München (Германия) Зал A2 - Стенд 113

  • Дополнительная информация
    36th Control 2024
    36th Control 2024

    23-26 апр. 2024 Stuttgart (Германия) Стенд 7103

  • Дополнительная информация
    Посмотреть все выставки
    * Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.