video corpo

Спектрометр EDX Quantax75
для анализапромышленныйдля НИОКР

спектрометр EDX
спектрометр EDX
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Тип
EDX
Область применения
для анализа, промышленный, для НИОКР, для научных исследований, для покрытия, военный, для анализа металлов, для контроля качества, для фармацевтической промышленности, для обнаружения химических веществ, для аккумулятора, для металлургической промышленности, для использования в медицине, для сортировки металлов, для автомобилестроения, для измерения толщины, для исследований и разработок, для обработки металла, для защиты окружающей среды, для электронного компонента, для горнодобывающей промышленности, для микроспектроскопии, для шахты, для рентгеновского микроанализа, для электроники, для химической промышленности, для анализа окружающей среды
Конфигурация
компактный
Тип детектора
SDD
Другие характеристики
высокая скорость

Описание

Серия TM4000 предлагает несколько систем EDS на выбор в зависимости от области применения и бюджета. Все предлагаемые детекторы имеют компактный дизайн и не требуют LN2. *: Пример конфигурации ЭОП Quantax75 в сочетании с СЭМ серии TM4000 *: Детектор: Встроенный тип (Изготовлено компанией Bruker Nano GmbH (Германия)) - Интуитивно понятное управление с наблюдением локальных спектров в заданных точках - Высокоскоростное цветное рентгеновское картирование с простым управлением - Функция Hypermap для анализа пятен, линий и результатов картирования за один прием Двухрежимный дисплей Многосторонняя визуализация данных становится возможной благодаря одновременному отображению результатов точечного или линейного анализа при выполнении элементного картирования в режиме реального времени. Точечный анализ - Спектр отображается в режиме реального времени, что позволяет легко визуализировать элементный состав для целевой области исследования. - Пример справа демонстрирует элементный состав в различных точках, отслеживаемых по линейному диапазону. Деконволюция в реальном времени - Спектры с перекрывающимися пиками могут быть разделены и визуально отображены в режиме реального времени.

---

Салоны

Вы сможете встретиться с этим поставщиком на выставке(-ах)

36th Control 2024
36th Control 2024

23-26 апр. 2024 Stuttgart (Германия) Стенд 7103

  • Дополнительная информация
    The Advanced Materials Show

    15-16 мая 2024 Birmingham (Великобритания)

  • Дополнительная информация

    Другие изделия Hitachi High-Tech Europe GmbH

    Electron Microscopes (SEM/TEM/STEM)

    * Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.