Микроскоп FTIR HYPERION II

для испытания материаловнастольныйвысокой точности

HYPERION II - это универсальный FT-IR микроскоп для исследований и разработок. Гибкая комплектация под конкретную задачу, возможность объединения инфракрасной лазерной визуализации (QCL) и FT-IR в одном приборе. HYPERION II - это инновация в инфракрасной микроскопии. Он обеспечивает ИК-визуализацию вплоть до дифракционного предела и задает новый эталон микроскопии ATR. Именно в нем впервые сочетаются FT-IR и инфракрасная лазерная визуализация (ILIM), благодаря чему в одном устройстве возможны все три режима измерения: пропускание, отражение и ATR. • Широкий выбор детекторов для μ-FT-IR: Широкополосные, среднеполосные, узкополосные LN2-MCT, термоэлектрически охлаждаемый (TE) MCT. • Матричный детектор для инфракрасной визуализации (64 x 64 или 128 x 128 пикселей). • Опция спектроскопии QCL на базе модуля лазерной инфракрасной визуализации (ILIM, лазер класса 1) • Выбор объектива: 3.5x/15x/36x/74x IR, 20x ATR, 15x GIR, 4x/40x VIS. • Расширение спектрального диапазона – от ближнего инфракрасного (NIR) до дальнего инфракрасного (FIR) • Выбор апертур: ручная и автоматизированная ножевая апертура. Металлические апертуры для NIR • Выбор аксессуаров и приндлежностей для пробоподготовки: аксессуар для макро ИК-визуализации, предметный столик для охлаждения/нагрева, защитный кожух и т.д. • Выбор устройств визуализации: подсветка Darkfield, флуоресцентная подсветка, поляризаторы VIS, ИК-поляризаторы и т.д.