Атомно-силовая микроскоп Dimension Icon®
для измеренийпромышленныйдля анализа материалов

атомно-силовая микроскоп
атомно-силовая микроскоп
атомно-силовая микроскоп
атомно-силовая микроскоп
атомно-силовая микроскоп
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Тип
атомно-силовая
Применение
для измерений, промышленный, для анализа материалов
Конфигурация
настольный
Другие характеристики
высокое разрешение, автоматизированный, высокая скорость, на прочность методом наноиндентирования, для пробы царапаньем

Описание

Dimension Icon® от Bruker обеспечивает высочайший уровень производительности, функциональности и доступности АСМ для исследователей наноразмеров в науке и промышленности. Основанная на наиболее используемой в мире платформе АСМ для больших образцов, она является кульминацией десятилетий технологических инноваций, отзывов клиентов и лучшей в отрасли гибкости применения. Система была разработана сверху донизу для обеспечения революционно низкого дрейфа и низкого уровня шума, что позволяет пользователям получать изображения без артефактов за несколько минут, а не часов. Высочайшая производительность сканер наконечника Обеспечивает непревзойденное разрешение больших образцов при уровне шума в открытом контуре, сниженном шумовом дне и скорости дрейфа <200 пм. Простота производительность Обеспечивает удивительно простую настройку, интуитивно понятный рабочий процесс и быстрое получение результатов, что позволяет всегда получать данные высокого качества для публикации. Универсальный платформа с открытым доступом Позволяет проводить самые разнообразные эксперименты, режимы, методики и полуавтоматические измерения. Высочайшая производительность и разрешение Превосходное разрешение Dimension Icon в сочетании с запатентованными алгоритмами электронного сканирования Bruker обеспечивают пользователю значительное улучшение скорости и качества измерений. Прибор Icon является кульминацией ведущей в отрасли технологии АСМ-сканирования наконечника Bruker, включающей термокомпенсирующие датчики положения для обеспечения уровня шума в суб-ангстремном диапазоне по оси Z и ангстремном по оси XY. Это исключительная производительность для системы с большим образцом и 90-микронным диапазоном сканирования, превосходящая уровни шума в открытом контуре АСМ высокого разрешения.

---

Каталоги

Dimension Icon AFM
Dimension Icon AFM
6 Страницы
Dimension Edge AFM
Dimension Edge AFM
8 Страницы

Салоны

Вы сможете встретиться с этим поставщиком на выставке(-ах)

ACHEMA 2024
ACHEMA 2024

10-14 июн. 2024 Frankfurt am Main (Германия)

  • Дополнительная информация
    * Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.